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              D256多針點測機

              SemiLase-D是晶圓點測機,適應用于高速二極管晶圓的測試。
              型號:
              上架時間:2021-03-29
              瀏覽次數:4537
              產品詳情

              設備特征

              產品特點

              產品介紹

              D256多針點測機是一種使用多針探針盤測試芯片電性能的設備,與行業中常見的探針臺比較,D256的產率具有明顯優勢,約是其他常見探針臺的3-5倍。

              D256使用256根針與晶圓芯片形成電接觸。測試芯片時,針與針之間的切換由繼電器來完成,這樣可以大幅度減少探針臺機械移動的時間,顯著提升了設備的產率。

              在設備架構上,用戶可以添加芯片外觀檢測功能,在測試芯片電性能的同時進行芯片外觀檢測。針對該產品,我們已經申請了發明專利。


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